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半导体性能测试数字源表高精密源表


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半导体性能测试数字源表高精密源表认准普赛斯仪表,普赛斯仪表推出更高精密度、更大直流的SXXB系列高精密度数字源表,相比较传统S系列源表,精确度提升至±0.03%,直流电流升级至3A,可为半导体行业提供非常精准、稳定的测试方案​;详询一八一四零六六三四七六; S型数字源表应用优势:
1、多功能测量需求下的广泛的适应性,电压高达300V,电流低至30pA;
2、实现“源”的输出和“表”的测量同步进行,提升测试效率。
3、具有对测试器件的保护功能,可进行自我限制,避免因过充而导致的对测试器件的损害;精确的电压电流限制功能,为器件提供完善的保护功能,避免器件损坏。
4、触屏图形化操作,使用简单。开放式平台,可按实际应用的需求而针对性的开发软件。

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